D8 ADVANCE priedas D8 DISCOVERY, Bruker. Plonasluoksnių bandinių, didelės skiriamosios gebos, automatinis rentgeno spindulių difraktometras kartu su valdymo, matavimo ir duomenų apdorojimo programine įranga yra tinkamas visų tipų kietoms medžiagoms tirti.
Raktažodžiai:
rentgeno spindulių difrakcija, struktūra, ploni sluoksniai, cheminių junginių analizė, mišiniai, fazės, struktūra
Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Specifikacija: 2,2 kW rentgeno spindulių vamzdis su Cu anodu; lygiagrečių spindulių pluoštelio/Bragg-Brentano geometrija; Giobelio veidrodis, 2xGe(022) kristalų monochromatorius; rotorinis absorberis, taškinis scintiliacinis detektorius; 1D „LynxEye“ detektorius, Eulerinis (X, Y, Z, Psi, Phi) bandinių laikiklis; Chi ir Xi motorizuotas pozicionavimo stalelis; reflektometrijos priedas; motorizuoto plyšio priedas; „PATHFINDER“ optika.
Reikalavimai bandiniams: ≥ 100 mg miltelių arba ≥ 10 mm × 10 mm pagrindas; dangos storis 5 – 1000 nm.
Kokybinei ir kiekybinei cheminių junginių analizei; Ab-initio cheminių junginių kristalų struktūrai nustatyti ir patikslinti; Medžiagų mikrostruktūros analizei (kristalitų dydžiams, mikro įtempiams; kristališkumo laipsniui nustatyti); Rentgeno difrakciniams matavimams esant slystančio kampo fokusuotei (GID); Mikro difrakciniams matavimams; Reflektometrijai mažoje ir didelėje skiriamojoje geboje