MBE: Epitaksinių sluoksnių auginimo sistema - KRATOS

Aprašymas:

Epitaksinų GaAs sluoksnių auginimo sistema KRATOS

Chromatografijos sistema Shimadzu 2020 (LCMS)

Aprašymas:

Skysčių chromatografu su masių spektrometro detektoriumi LCMS-2020 galima tiksliai nustatyti organinių junginių molekulines mases, patikrinti junginių grynumą, įsitikinti, ar gaunamas reikalingas junginys. Identifikuojamos mažos koncentracijos, tad LCMS-2020 masių spektrometras užtikrina didžiausią greitųjų duomenų analizę, pasižyminčią neprilygstamu jautrumu. Šiuo spektrometru galima atlikti greitesnį, tikslesnį pėdsakų, esančių vaistų mėginiuose, aplinkos teršaluose ar kituose mėginiuose, aptikimą. LCMS-2020 gali aptikti masių diapazoną m/z nuo 10 iki 2000 ir pasiekti itin greitą poliarizacijos perjungimo laiką (15 ms).

Hibridinis masių spektrometras su skriejimo laiko masių analizatoriumi

Aprašymas:

Hibridinis masių spektrometras su skriejimo laiko masių analizatoriumi gali registruoti molekulines mases dideliu tikslumu, dėl to įmanoma apskaičiuoti junginių molekulines formules. Tai yra metodas, labiausiai tinkantis atskirų junginių, esančių sudėtinguose mišiniuose, identifikavimui.

Molekulinių masių nustatymas yra svarbus tiek kuriant naujus cheminius junginius, tiek atliekant kokybės kontrolę.

Ultra efektyvioji skysčių chromatografija (UESCh) gali išskirstyti didelio ir vidutinio poliškumo junginius per pakankamai trumpą laiką. UESCh gali išskirstyti junginius ir užrašyti jų UV spektrus 200-500 nm intervale, bei MS spektrus 20-8000 m/z intervale. Masių užrašymo tikslumas geresnis nei 1 ppm.

700MHz branduolių magnetinio rezonanso spektrometras

Aprašymas:

Branduolių magnetinio rezonanso spektrometras skirtas organinių junginių struktūros tirpaluose tyrimui ir identifikavimui, taip pat biologinių makromolekulių (pvz., baltymų, DNR ir oligosacharidų) struktūrų sprendimui bei mažamolekulinių junginių identifikavimui. Galima analizuoti grynus junginius, taip pat ir kelių komponenčių mišinius. Spektrometru galima užrašyti 1H, 13C, 15N, 19F, 31P branduolių magnetinio rezonanso spektrus bei įvairius dvimačius spektrus. Avance III 700 MHz yra trijų kanalų BMR prietaisas, jo magnetinis laukas siekia 16,4 Teslos su 54 mm kambario temperatūros kanalu, įmontuota kriogeninė trigubo rezonanso galvutė, taip pat yra 60 pozicijų automatinis mėginių keitiklis.

Skysčių chromatografijos ir masių spektrometrijos sistema

Aprašymas:

Bruker micrOTOF-QIII spektrometru galima itin tiksliai nustatyti organinių junginių molekulines mases, patikrinti junginių grynumą.  Prietaise yra automatizuota „LC-MS“ sistema, skirta cheminių formulių generavimui, molekulinės formulės patvirtinimui ir bendriems LC-MS matavimams. Bruker micrOTOF-QIII spektrometro pagalba galima atlikti formulių patvirtinimą, junginio identifikavimą su LC, GC arba tiesioginiu zondu, išplėstinį identifikavimą. Spektrometru aptinkama masė yra labai plačiame 20 - 40 000 m / z diapazone, masė 1 - 2 ppm RMS, masės skiriamoji geba yra 20 000 (FWHM) LC greičiu.

XPS: Rentgeno fotoelektronų ir Ože elektronų spektroskopijos sistema - KRATOS XSAM800

Aprašymas:

Paviršiaus tyrimas Rentgeno fotoelektronų ir Ože elektronų spektroskopijomis,  medžiagų  elementinės sudėties tyrimai, cheminių rųšių tarp elementų tyrimai, paviršiaus ėsdinimas argono jonais, tiesioginė sąsaja vakume su GaAs sluoksnių auginimo sistema 

Išsamiosios dujų chromatografijos sistema su skriejimo laiko masių spektrometrijos detektoriumi

Aprašymas:

Pegasus 4D GCxGC-TOFMS sistema skirta išskirstyti ir identifikuoti lakiuosius aromato junginius mėginio skystame būvyje ir mėginio viršerdvėje.  Eterinių aliejų, lakiųjų ekstraktų, aromatinių vaistinių ir prieskoninių augalų sudėties kokybinė ir kiekybinė chromatografinė analizė.

Kompleksinė mėginių analizė, sudedamųjų lakiųjų aromato junginių išskirstymas ir identifikavimas. CIS4 Mėginių įleidimo įtaisas su šaldymu (su srauto paskirstymu/be srauto paskirsytmo) gali būti kombinuojamas su  statinės viršervės dujų įrenginiu, termodesorbcijos ir  kietafazės mikroekstrakcijos (KFME) įrenginiais.

Dųjų chromatografo termostato temperatūra ribose +4 iki 450 °C, darbinių dujų slėgis intervale 0-150 psi (split/splitless inžektoriumi), Skriejimo laiko masių spektrometras (TOF MS) su elektronų smūgio jonizacijos šaltiniu (EI), masių diapazonas 5-1000 amu, masių skiriamoji geba FWHM yra didesnis nei 1000, TOF MS yra suderintas ir dirba su dujų chromatografu 1D ir 2D režimu; TOF MS įgalina automatinį MS parametrų optimizavimą, automatinį masių kalibravimą.

Rentgeno mikrotomografas

Aprašymas:

Kompiuterinė tomografija (CT) - tai vaizdo apdorojimo procedūra, kurioje objektas apšviečiamas rentgeno spinduliuotės šaltiniu skirtingais kampais ir įrašomi 2D vaizdai plokščiajame detektoriuje. Vėliau rekonstruojami 3D tankio pasiskirstymo vaizdai objekte. Kompiuterizuotas tomografijos skaičiavimas leidžia 3D objekto viduje rekonstruoti matuojamus tūrinius duomenis. Galima pasiekti iki 3 μm skiriamąją gebą.

Tandeminis trijų kvadrupolių (MS/MS) masių spektrometras su ultra didelio efektyvumo ir superkrizinių skysčių chromatografijos sistema

Aprašymas:

Trigubo kvadrupolio masių spektrometras gali aptikti junginius, esančius mišinyje labai mažomis koncentracijomis, todėl šis prietaisas tinka kiekybinei, (ypač priemaišų) analizei. Taip pat šiuo masių spektrometru galima fragmentuoti junginius ir atlikti identifikavimą pagal gaunamus fragmentus.

Analizės metodas  yra svarbus tiek tiriant produktų sudėtį, tiek atliekant kokybės kontrolę.

Ultra efektyvioji skysčių chromatografija (UESCh) gali išskirstyti didelio ir vidutinio poliškumo junginius per pakankamai trumpą laiką. UESCh gali išskirstyti junginius ir užrašyti MS spektrus 20-4000 m/z intervale. Junginių aptikimo jautrumas priklauso nuo kiekvieno junginio savybių, bet bendru atveju yra pg ribose.

Naudojant superkrizinių skysčių chromatografiją galima analizuoti ir nepolinius junginius, tokius kaip lipidai, riebaluose tirpūs vitaminai, pigmentai ir pan

400 MHz Branduolių magnetinio rezonanso spektrometras

Aprašymas:

Branduolių magnetinio rezonanso spektrometras skirtas organinių junginių struktūros tirpaluose identifikavimui.  Prietaisu galima analizuoti grynus junginius bei kelių komponenčių mišinius. Spektrometru galima užrašyti 1H, 13C, 15N, 19F, 31P branduolių magnetinio rezonanso spektrus bei įvairius dvimačius spektrus. Veikimo principas remiasi skirtingu branduolių ekranavimu elektronais. Prietaiso nuolatinis magnetinis laukas siekia 9,4 Teslos; yra kambario temperatūros lauko vienalytiškumo derinimo (shim) sistema optimaliam magnetinio lauko vienalytiškumui, reikalingam 1D, 2D ir 3D eksperimentuose be mėginio kiuvetės sukimo; ne mažiau nei 20 ortogonalių gradientų kontrolė bei 60 pozicijų automatinis mėginių keitiklis.

3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras Polytec PSV-500-3D-HV (MI MMLab)

Aprašymas:

3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras judesio (virpesių) 3D dedamųjų matavimui bei programinę įrangą rezultatų analizei ir vizualizavimui virpesių matavimo plokštumoje ir statmena kryptimi plokštumai matavimo galvutės (kompl. iš vnt. 3, 3D analizei, su integruotais skeneriais) ir šių galvučių tvirtinimo sistema; duomenų nuskaitymo, analizės ir vizualizavimo įranga

EBL: Elektroninės litografijos įrenginys - Raith e-Line Plus

Aprašymas:

Raith e-Line Plus yra pažangi elektroninės litografijos sistema, skirta didelio tikslumo nanogamybai ir nanoraštų formavimui. Tai yra lankstus įrenginys, turintis aukštos raiškos elektronų pluošto koloną, galintis formuoti >10 nm nanostruktūras. Raith e-Line Plus turi draugišką vartotojo sąsają ir nesudėtingą programinį valdymą, kas padeda efektyviai ir tiksliai paversti suprojektuotus raštus realybe. Ši sistema taip pat gali veikti kaip skenuojantis elektroninis mikroskopas (SEM) bei gali atlikti paviršių cheminę analizę (EDX), pažymint elementus nuo Be iki Am.

Ši įranga yra ISO5 klasės švariosiose patalpose.

XPS: Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema - ThermoFisher ESCALAB 250Xi

Aprašymas:

Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema. Medžiagų  elementinės sudėties tyrimai, cheminių rųšių tarp elementų tyrimai taikant: Rentgeno fotoelektronų spektroskopija (XPS); jonų sklaidos spektroskopija (ISS); atspindėtų elektronų prarastos energijos spektroskopija (REELS);  UV fotoelektronų spindulių spektroskopija (UPS); kintančio kampo matavimai (ARXPS) ir paviršiaus ėsdinimas argono jonais.