Aprašymas:

Ultimaker 2 yra viena iš moderniausių, tiksliausių ir patikimiausių darbastalio 3D spausdintuvų.

Aprašymas:

Ultragarsinis beinvazinis srauto matuoklis su priedais (jutiklių komplektu, sienelės storio matuokliu, spausdintuvu ir kt.)

Aprašymas:

Energetikos įrenginių bandymo stendą sudaro: relinės apsaugos bandymo sistema, bandymo stendas su bazine programine įranga, komunikacijos protokolu modulis, poliaringumo tikrinimo modulis su papildoma aparatine įranga, papildomų jungiamųjų laidų ir transportavimo priemonių komplektas, multifunkcinis aukštos įtampos įrenginių bandymo stendas, srovės stiprintuvas, elektrodų komplektas įžeminimo varžų matavimui, papildomų matavimų modulis, įžeminimo varžos matavimo priedas moduliui, matavimo transformatorių bandymo stendas bei galios transformatorių diagnostikos modulis.

Aprašymas:

3D spausdintuvas sparčiai gamybai iš termoplastinių ir poliamidinių medžiagų.

Aprašymas:

Optinis stereo mikroskopas skirtas optiniams matavimams tiriant įvairių objektų pjūvius ir paviršių

Aprašymas:

Precizinis 6 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Precizinis 11 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras judesio (virpesių) 3D dedamųjų matavimui bei programinę įrangą rezultatų analizei ir vizualizavimui virpesių matavimo plokštumoje ir statmena kryptimi plokštumai matavimo galvutės (kompl. iš vnt. 3, 3D analizei, su integruotais skeneriais) ir šių galvučių tvirtinimo sistema; duomenų nuskaitymo, analizės ir vizualizavimo įranga

Aprašymas:

JPK NanoWizard 3 skenuojančio sondo mikroskopas yra naudojamas paviršiaus topografijos matavimams bei mechaninėms, elektrinėms, magnetinėms savybėms tirti ore ir skysčiuose. Galima tirti kietas, polimerines, biologines medžiagas. Taip pat įmanoma altikti objektų nanomanipuliavimą ir nanolitografiją. Sistema įgalina pažangių medžiagų tyrimus ir padeda kontroliuoti nanoskalėje vykstančių technologinių procesų parametrus.

Ši įranga yra ISO5 klasės švariosiose patalpose.

Aprašymas:

Greitaeigis akustinis mikroskopas skirtas aukštadažniams ultragarsiams tyrimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškai. Taip pat elektroninių komponentų ir biologinių objektų vidinės struktūros tyrimams.

Aprašymas:

Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė sūkurinių srovių / ultragarsinė sistema skirta niaudoti sūkurinių srovių / ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Programine įranga valdomas statinio vilgymo kampo matavimo prietaisas su didelės skiriamosios gebos optika, tiksliu bandinio pozicionavimu ir programine įranga paviršiaus energijos ir tarpfazinės energijos matavimui (dispersinių, polinių ir vandenilinių ryšių dalių, rūgščių ir bazių dalių) automatinis apskaičiavimas pagal Wu, Zismano, Owens-Wendt-Rabel-Kaelble, Fowkeso ir Neumanno teorijas.Prietaisu galima nustatyti kietųjų kūnų paviršių vilgumą, paviršiaus laisvąją energiją, tarpfazinę energiją. Skirta matavimams skysčiais, turinčiais klampą iki 120 mPas.

Aprašymas:

Programine įranga valdomas prietaisas, skirtas miltelių ir pluoštų kontaktinio kampo, taip pat skysčių adsorbcijos ant vilgomų medžiagų paviršių matavimui pagal modifikuotą Washburno metodą; prizminių ir cilindrinių bandomųjų kūnų dinaminio kontakto kampo ir paviršiaus energijos matavimui. 

Aprašymas:

Tarpfazinio šlyties įtempio (IFSS) matavimo sistema naudojama polimero mikrolašelių, suformuotų ir sukietintų ant pluošto, atplėšimo jėgai matuoti. Videokamera su šviesos šaltiniu leidžia vizualizuoti lašelį bandymo metu ir užfiksuoti atplėšimo procesą vaizdo įrašuose ir nuotraukose.

Aprašymas:

Chromatografijos (HPLC) sistema su masių (MS) detektoriumi ir elementinė analizė

Aprašymas:

LuQY Pro – tai kompaktiška, lengvai naudojama ir neinvazinė sistema, skirta greitam ir patikimam elektroliuminescencijos (EL), fotoliuminescencijos kvantinio našumo(PLQY) bei numanomos atvirojo grandinės įtampos (iVOC / kvazi-fermi lygmenų skirtumo – QFLS) įvertinimui plonų sluoksnių absorberiuose, tokiuose kaip hibridiniai halidiniai perovskitai, sluoksnių struktūrose ar pilnuose fotovoltiniuose įrenginiuose, esant įvairioms darbo sąlygoms.

Aprašymas:

Sluoksnių formavimui skirta įranga, integruota į inertinės atmosferos kamerą.

Aprašymas:

Raith e-Line Plus yra pažangi elektroninės litografijos sistema, skirta didelio tikslumo nanogamybai ir nanoraštų formavimui. Tai yra lankstus įrenginys, turintis aukštos raiškos elektronų pluošto koloną, galintis formuoti >10 nm nanostruktūras. Raith e-Line Plus turi draugišką vartotojo sąsają ir nesudėtingą programinį valdymą, kas padeda efektyviai ir tiksliai paversti suprojektuotus raštus realybe. Ši sistema taip pat gali veikti kaip skenuojantis elektroninis mikroskopas (SEM) bei gali atlikti paviršių cheminę analizę (EDX), pažymint elementus nuo Be iki Am.

Ši įranga yra ISO5 klasės švariosiose patalpose.