Aprašymas:
Ramano spektro matavimo įranga susideda iš trijų dalių: lazerio, Ramano kameros (optinė dalis) ir spektrometro . Lazeris. Ramano spektrui gauti naudojame Spectra – Physics firmos 150 mW galios lazerį. Tai kietakūnis Nd:YAG pagrindu veikiantis lazeris. Ramano kamera. Makro Ramano kamera sudaryta iš trijų dalių: formavimo kameros, bandinio kameros ir Ramano signalo fokusavimo kameros. Spektrometras. Šviesolaidis jungia optinę sistemą su Ramano spektro analizavimo įrenginiu.

Aprašymas:
Ramano sklaida - tai monochromatinės šviesos išsklaidymas medžiagoje, kurio metu pakinta šviesos dažnis. Turima sistema pradeda veikti sužadinimo lazeriu, nukreiptu į mėginį per zondą. Zondo signalas matuojamas spektrometru. Taip pat yra programinė įranga ir mėginių laikiklis kiuvetėms, zondams arba plokštiems padėklams.

Aprašymas:

Ultimaker 2 yra viena iš moderniausių, tiksliausių ir patikimiausių darbastalio 3D spausdintuvų.

Aprašymas:

Ultragarsinis beinvazinis srauto matuoklis su priedais (jutiklių komplektu, sienelės storio matuokliu, spausdintuvu ir kt.)

Aprašymas:

Energetikos įrenginių bandymo stendą sudaro: relinės apsaugos bandymo sistema, bandymo stendas su bazine programine įranga, komunikacijos protokolu modulis, poliaringumo tikrinimo modulis su papildoma aparatine įranga, papildomų jungiamųjų laidų ir transportavimo priemonių komplektas, multifunkcinis aukštos įtampos įrenginių bandymo stendas, srovės stiprintuvas, elektrodų komplektas įžeminimo varžų matavimui, papildomų matavimų modulis, įžeminimo varžos matavimo priedas moduliui, matavimo transformatorių bandymo stendas bei galios transformatorių diagnostikos modulis.

Aprašymas:

3D spausdintuvas sparčiai gamybai iš termoplastinių ir poliamidinių medžiagų.

Aprašymas:

Optinis stereo mikroskopas skirtas optiniams matavimams tiriant įvairių objektų pjūvius ir paviršių

Aprašymas:

Precizinis 6 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Precizinis 11 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:
Trijų magnetronų sistema, su kuria vakuuminėje kameroje galima sintezuoti dvikomponenčių arba trikomponenčių medžiagų plonus sluoksnius. Tai pat galima užauginti daugiasluoksnę sistemą susidedančia iš dviejų arba trijų skirtingų medžiagų sluoksnių. Katodų skersmuo 3 coliai, storis nuo 1 mm iki 6 mm. Tokie sluoksniai taikomi mikroelektronikoje ir nanoelektronikoje plonų sluoksnių (paprastai iki 1 vieno mikrometro storio) sintezei. Veikimo principas: fizikinis katodo medžiagos dulkėjimas. Plazmos jonų iš katodo išmušta medžiaga nusėda ant norimų padėklų.

Aprašymas:
Keraminių padėklų formavimas atliekamas iš paruoštos keraminio mišinio masės, panaudojant nerūdijančio plieno reikalingo dydžio presformą ir „Carver“ formos presą. Keraminio mišinio gamybai, tolygiam medžiagų pasiskirstymui mišinyje naudojame maišyklę OS-20.

Aprašymas:

3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras judesio (virpesių) 3D dedamųjų matavimui bei programinę įrangą rezultatų analizei ir vizualizavimui virpesių matavimo plokštumoje ir statmena kryptimi plokštumai matavimo galvutės (kompl. iš vnt. 3, 3D analizei, su integruotais skeneriais) ir šių galvučių tvirtinimo sistema; duomenų nuskaitymo, analizės ir vizualizavimo įranga

Aprašymas:

JPK NanoWizard 3 skenuojančio sondo mikroskopas yra naudojamas paviršiaus topografijos matavimams bei mechaninėms, elektrinėms, magnetinėms savybėms tirti ore ir skysčiuose. Galima tirti kietas, polimerines, biologines medžiagas. Taip pat įmanoma altikti objektų nanomanipuliavimą ir nanolitografiją. Sistema įgalina pažangių medžiagų tyrimus ir padeda kontroliuoti nanoskalėje vykstančių technologinių procesų parametrus.

Ši įranga yra ISO5 klasės švariosiose patalpose.

Aprašymas:

Greitaeigis akustinis mikroskopas skirtas aukštadažniams ultragarsiams tyrimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškai. Taip pat elektroninių komponentų ir biologinių objektų vidinės struktūros tyrimams.

Aprašymas:

Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Daugiakanalė sūkurinių srovių / ultragarsinė sistema skirta niaudoti sūkurinių srovių / ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Aprašymas:

Programine įranga valdomas statinio vilgymo kampo matavimo prietaisas su didelės skiriamosios gebos optika, tiksliu bandinio pozicionavimu ir programine įranga paviršiaus energijos ir tarpfazinės energijos matavimui (dispersinių, polinių ir vandenilinių ryšių dalių, rūgščių ir bazių dalių) automatinis apskaičiavimas pagal Wu, Zismano, Owens-Wendt-Rabel-Kaelble, Fowkeso ir Neumanno teorijas.Prietaisu galima nustatyti kietųjų kūnų paviršių vilgumą, paviršiaus laisvąją energiją, tarpfazinę energiją. Skirta matavimams skysčiais, turinčiais klampą iki 120 mPas.

Aprašymas:

Programine įranga valdomas prietaisas, skirtas miltelių ir pluoštų kontaktinio kampo, taip pat skysčių adsorbcijos ant vilgomų medžiagų paviršių matavimui pagal modifikuotą Washburno metodą; prizminių ir cilindrinių bandomųjų kūnų dinaminio kontakto kampo ir paviršiaus energijos matavimui. 

Aprašymas:

Tarpfazinio šlyties įtempio (IFSS) matavimo sistema naudojama polimero mikrolašelių, suformuotų ir sukietintų ant pluošto, atplėšimo jėgai matuoti. Videokamera su šviesos šaltiniu leidžia vizualizuoti lašelį bandymo metu ir užfiksuoti atplėšimo procesą vaizdo įrašuose ir nuotraukose.

Aprašymas:

Chromatografijos (HPLC) sistema su masių (MS) detektoriumi ir elementinė analizė

Aprašymas:

LuQY Pro – tai kompaktiška, lengvai naudojama ir neinvazinė sistema, skirta greitam ir patikimam elektroliuminescencijos (EL), fotoliuminescencijos kvantinio našumo(PLQY) bei numanomos atvirojo grandinės įtampos (iVOC / kvazi-fermi lygmenų skirtumo – QFLS) įvertinimui plonų sluoksnių absorberiuose, tokiuose kaip hibridiniai halidiniai perovskitai, sluoksnių struktūrose ar pilnuose fotovoltiniuose įrenginiuose, esant įvairioms darbo sąlygoms.

Aprašymas:

Sluoksnių formavimui skirta įranga, integruota į inertinės atmosferos kamerą.

Aprašymas:
Adatinis profilometras naudojamas didelio tikslumo paviršiaus metrologijai. Naudojantis adata profilometras mechaniškai nuskaito mėginio paviršių, kad išmatuotų paviršiaus topografiją ir kiekybiškai įvertintų tokias savybes kaip laiptelių aukštis, šiurkštumas ir plėvelės storis subnanometrų tikslumu. Atliekant daugelį lygiagrečių matavimų galima sudaryti dvimatį paviršiaus reljefo vaizdą.

Aprašymas:
Įrenginys gali vienu metu analizuoti kelis dujų komponentus. Tiriamos dujos per kapiliarą patenka į masių spektrometrą, kuris veikia vakuume. Spektrometras jonizuoja dalį dujų, o tuomet atskiria ir aptinka skirtingus komponentus pagal jų masės ir krūvio santykį. Dujų įleidimo sistema sumažina tiriamų dujų slėgį nuo 1000 hPa iki masių spektrometro darbinio slėgio.

Aprašymas:
Dinaminės šviesos sklaidos matavimų prietaisas yra skirtas nanodalelių ir molekulių skystoje terpėje apibūdinimui. Prietaise naudojama dinaminės šviesos sklaidos (DLS) ir elektroforezinės šviesos sklaidos (ELS) metodai dalelių / molekulių dydžiui, zeta potencialui (dalelių krūviui / stabilumui) ir dalelių koncentracijai matuoti. Sistema apima pažangią detektavimo metodiką, tokią kaip neinvazinė atgalinė sklaida (NIBS) ir daugiakampė dinaminė šviesos sklaida (MADLS), kad būtų užtikrintas didelis jautrumas, platus koncentracijos nustatymo diapazonas ir geresnė dydžio pasiskirstymo skiriamoji geba. Matavimai gali būti atliekami su nedideliu tūriu siekiančiu tik 3 µL ir yra valdomas patogia naudoti „ZS Xplorer“ programine įranga, kad būtų galima greitai ir patikimai analizuoti rezultatus.

Aprašymas:
Dvispindulinis UV-Vis/NIR spektrofotometras skirtas kasdieniams ir moksliniams matavimams. Spektrofotometre įmontuotos halogeno ir deuterio lempos perdengiančios 190-2700 nm bangos ilgių diapazoną. UV ir matomosios šviesos sričiai registruoti naudojamas fotodaugintuvo (PMT) detektorius, o NIR sričiai – Peltier aušinamas PbS detektorius. Spektrofotometras valdomas naudojant „Spectra Manager™ Suite“ programinę įrangą. Spektrofotometras turi 60 mm skersmens integruojančios sferos priedą, kuria galima matuoti skystų, kietų ar miltelių pavidalo mėginių difuzinį pralaidumą arba atspindį. Integruojančią sferą sudaro „Spectralon“ etaloninė plokštė ir veidrodinio atspindžio išskyrimo mėginio laikiklis. Plėvelės laikiklio priedas gali būti naudojamas plėvelių pralaidumui matuoti, kai keičiamas šviesos spindulio kritimo kampas. Šį kritimo kampą galima nustatyti 1º žingsniais, o sukimosi diapazonas yra ±90º.

Aprašymas:
4 magnetronų plonų struktūrų formavimo įrenginys. Galimi magnetronų šaltiniai pastovios srovės (DC), kintamos srovės (Pulse DC), bei kintamo dažnio (RF). Bandinių temperatūra užnešimo metu gali būti palaikoma iki 300 laipsnių C.

Aprašymas:
Smulkiųjų struktūrų tyrimo įranga CytoViva skirta nanodarinių tyrimui. Tam naudojami tamsaus lauko mikroskopiniai vaizdai ir išskaidytos šviesos spektrai, gauti smulkiosios spektrinės struktūroms skirtu optinių mikroskopo NICON LV 150 priedu Cytoviva 150. Sistemą sudaro CytoViva 150 tamsaus lauko kondensorius, metalo halido šviesos šaltinis Solarc 24 W ir didelės skiriamosios gebos skaitmeninė kamerą.

Aprašymas:
Lazerinis nulio elipsometras naudojamas plonų dielektrinių ir puslaidininkinių plėvelių storio ir lūžio rodiklio nustatymui. Lazerinė elipsometrija pagrįsta nuo bandinio atspindėtos monochromatinės poliarizuotos šviesos poliarizacijos parametrų analize. Lazerio spindulio bangos ilgis – 632,8 nm.. Plėvelių storis 0,001 - 1 µm. Storio matavimų neapibrėžtis - ±(2.5 - 10) Å. Lūžio rodiklio matavimo neapibrėžtis ±0.01, galimi matavimo kampai 30, 50, 70. Taikymo sritys: plonų polimerinių, dielektrinių ir puslaidininkinių plėvelių, pusiau skaidrių (<50 nm) metalo plėvelių storio ir lūžio rodiklio matavimas.

Aprašymas:
Turimas Ocean Optics UV-Vis ir NIR spektrometrai taikomi mėginių optinių savybių tyrimams realiame laike tirpale, ant skaidrių ir neskaidrių paviršių.

Aprašymas:
Didelės spartos signalų analizė ir diagnostika naudojant skaitmeninį oscilografą. Įrenginys užtikrina tikslų bangos formų fiksavimą, mišrių signalų analizę, pažangias trigerio funkcijas ir išsamius matavimo įrankius.

Aprašymas:
Vamzdinė krosnis – LV Standartinė laboratorinė elektrinė krosnis skirta įvairiems terminio apdirbimo procesams esant temperatūrai nuo 500 C iki 13000 C įvairiuose dujinėse terpėse. Kvarcinio stiklo darbinė kamera. Mikroprocesorinis temperatūros valdiklis. Aukštos kokybės pluoštinė termoizoliacija. Maža vartojimo galia. Galimybė valdyti personaliniu kompiuteriu.

Aprašymas:

Raith e-Line Plus yra pažangi elektroninės litografijos sistema, skirta didelio tikslumo nanogamybai ir nanoraštų formavimui. Tai yra lankstus įrenginys, turintis aukštos raiškos elektronų pluošto koloną, galintis formuoti

Aprašymas:
Termogravimetrinė analizė (TGA) matuoja mėginio masės pokyčius priklausomai nuo temperatūros kontroliuojamo kaitinimo ir atmosferos sąlygomis. Ji atskleidžia terminį stabilumą, sudėtį, skilimo savybes, drėgmės/lakių medžiagų kiekį ir užpildų/pelenų kiekį.

Aprašymas:
„Roland CAMM-1 GS-24“ pjovimo įrenginys yra skirtas daugiasluoksnių polimerinių lipnių plėvelių pjovimui pagal iš anksto paruoštą grafinį vaizdą. Naudojant „Roland CutStudio“ programinę įrangą, galima lengvai nustatyti peilio poslinkį, greitį ir prispaudimo jėgą bei generuoti pjovimo kontūrus. Optinis žymių atpažinimas užtikrina precizinį suprojektuoto objekto kontūro išpjovimą.

Aprašymas:
Fourier transformacinė infraraudonųjų spindulių (FTIR) spektroskopija su cheminiu vaizdavimu. Užtikrina neardomą cheminį medžiagų identifikavimą ir erdvinį vaizdavimą mikrolygyje. Taikymo sritys • Mikroplastikų analizė • Dalelių identifikavimas ir daugiasluoksnių medžiagų analizė • Heterogeninių mėginių cheminis vaizdavimas • Defektų, užteršimo ir gedimų analizė • Paviršiaus ir skerspjūvio analizė