|
Ramano spektroskopinė sistema
Aprašymas: |
|
|
Mikroskopas su skaitmenine kamera "Olimpus BX41M"
Aprašymas: Mikroskopas skirtas mokymo ir gamybiniams tikslams metalinių detalių bei ruošinių struktūroms, vidiniams ir išoriniams defektams tirti. Struktūroms ir vidiniams defektams tirti reikalingi specialūs detalių ruošiniai - mikrošlifai (t.y. detalės ardomoji kontrolė). Mikroskopas dirba atspindžio principu. Naudojams mokymo įstaigose ir metalų apdirbimo įmonėse. |
|
|
Profilometras GARANT ST1
Aprašymas: Profilometro paskirtis yra matuoti paviršių šiurkštumą stacionariai ir darbo vietoje. Taikymas - studentams mokyti, technologiniams procesams tirti. Turi vidinę atmintį ir spausdintuvą. |
|
|
Hidraulinė stotis NS-PAS Ser.Nr.820
Aprašymas: Hidraulinė stotis aptarnauja du presus, kurių vieno maksimali galia: 2500 kN [~250 tonų] kito maksimali galia 200 kN [~20 tonų]. Įrenginiai skirti bandinių lenkiamajam ar gniuždomajam stipriui tirti. Galimas ciklinis bandinių užkrovimo-nukrovimo tyrimas. |
|
|
Ocean Optics Ramano spektroskopas
Aprašymas: |
|
|
3D spausdintuvas Ultimaker 2 (MI)
Aprašymas: Ultimaker 2 yra viena iš moderniausių, tiksliausių ir patikimiausių darbastalio 3D spausdintuvų. |
|
|
Beinvazinis srauto matuoklis (MVLab)
Aprašymas: Ultragarsinis beinvazinis srauto matuoklis su priedais (jutiklių komplektu, sienelės storio matuokliu, spausdintuvu ir kt.) |
|
|
Energetikos įrenginių bandymų stendas (MVLab)
Aprašymas: Energetikos įrenginių bandymo stendą sudaro: relinės apsaugos bandymo sistema, bandymo stendas su bazine programine įranga, komunikacijos protokolu modulis, poliaringumo tikrinimo modulis su papildoma aparatine įranga, papildomų jungiamųjų laidų ir transportavimo priemonių komplektas, multifunkcinis aukštos įtampos įrenginių bandymo stendas, srovės stiprintuvas, elektrodų komplektas įžeminimo varžų matavimui, papildomų matavimų modulis, įžeminimo varžos matavimo priedas moduliui, matavimo transformatorių bandymo stendas bei galios transformatorių diagnostikos modulis. |
|
|
Jėgos daviklis KAL 300kN
Aprašymas: Šios serijos dinamometrai išsiskiria puikiomis metrologinėmis savybėmis, stabilumu ir palyginus mažu svoriu. Jie gali matuoti tiek gniuždant, tiek tempiant. Prietaisu galima išmatuoti apkrovas iki 300 kN [~30 t.] matavimo tikslumas ≤ ±0.1% . Korpusas pagamintas iš nerūdijančio plieno, kabelio ilgis 5 metrai. Maitinimas 10 V nuo akumuliatoriaus arba iš elektros tinklo per maitinimo blokelį. |
|
|
3D spausdintuvas spartiems prototipams gaminti EOS Formiga P110 (MI MVLab)
Aprašymas: 3D spausdintuvas sparčiai gamybai iš termoplastinių ir poliamidinių medžiagų. |
|
|
Mikroskopas stereo Olympus SZX16
Aprašymas: Optinis stereo mikroskopas skirtas optiniams matavimams tiriant įvairių objektų pjūvius ir paviršių |
|
|
Imersinis 6 laisvės laipsnių matavimo stendas ultragarsiniam tyrimams atlikti
Aprašymas: Precizinis 6 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Ultragarsinių imersinių tyrimo stendas su dviguba ne mažiau kaip 6 laisvės
Aprašymas: Precizinis 11 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Ultragarsinė tyrimų žemo dažnio fazuotomis gardelėmis (32/128/2) sistema
Aprašymas: Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Mokomasis frezavimo-apdirbimo centras CONCEPT MILL300
Aprašymas: Šis mokomasis centras skirtas apmokyti studentus ir gamybinį personalą darbo įgūdžių. Juo galima apdirbti metalus ir plastmases frezavimo, ištekinimo, gręžimo, gilinimo, plėtimo, sriegimo būdais. Staklės valdomos programiniu būdu. Valdymo programos Fanuc 21T, Sinumerik810D/841D, Heidenhain TNC 426. |
|
|
Trijų magnetroninių šaltinių garinimo sistema
Aprašymas: |
|
|
Keraminių miltelių tablečių formavimo įrenginys - presas
Aprašymas: |
|
|
3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras Polytec PSV-500-3D-HV (MI MMLab)
Aprašymas: 3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras judesio (virpesių) 3D dedamųjų matavimui bei programinę įrangą rezultatų analizei ir vizualizavimui virpesių matavimo plokštumoje ir statmena kryptimi plokštumai matavimo galvutės (kompl. iš vnt. 3, 3D analizei, su integruotais skeneriais) ir šių galvučių tvirtinimo sistema; duomenų nuskaitymo, analizės ir vizualizavimo įranga |
|
|
AJM (AFM): Skenuojančio zondo mikroskopas - JPK NanoWizard 3
Aprašymas: JPK NanoWizard 3 skenuojančio sondo mikroskopas yra naudojamas paviršiaus topografijos matavimams bei mechaninėms, elektrinėms, magnetinėms savybėms tirti ore ir skysčiuose. Galima tirti kietas, polimerines, biologines medžiagas. Taip pat įmanoma altikti objektų nanomanipuliavimą ir nanolitografiją. Sistema įgalina pažangių medžiagų tyrimus ir padeda kontroliuoti nanoskalėje vykstančių technologinių procesų parametrus. Ši įranga yra ISO5 klasės švariosiose patalpose. |
|
|
Greitaeigis akustinis mikroskopas skirtas aukštadažniams ultragarsiams tyrimams vandenyje (KSI V8)
Aprašymas: Greitaeigis akustinis mikroskopas skirtas aukštadažniams ultragarsiams tyrimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškai. Taip pat elektroninių komponentų ir biologinių objektų vidinės struktūros tyrimams. |
|
|
Ultragarsinė neardomųjų bandymų sistema ZPA-RDT-DYNARAY-64/256PR su fazuojam
Aprašymas: Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Ultragarsinė tyrimų fazuotomis gardelėmis (128/128) sistema
Aprašymas: Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Sūkurinių srovių neardomųjų bandymų sistema ir keitiklių rinkiniai
Aprašymas: Daugiakanalė sūkurinių srovių / ultragarsinė sistema skirta niaudoti sūkurinių srovių / ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje |
|
|
Paviršiaus įtempio ir tapfazinio įtempio matavimo prietaisas DCAT 25
Aprašymas: Programine įranga valdomas statinio vilgymo kampo matavimo prietaisas su didelės skiriamosios gebos optika, tiksliu bandinio pozicionavimu ir programine įranga paviršiaus energijos ir tarpfazinės energijos matavimui (dispersinių, polinių ir vandenilinių ryšių dalių, rūgščių ir bazių dalių) automatinis apskaičiavimas pagal Wu, Zismano, Owens-Wendt-Rabel-Kaelble, Fowkeso ir Neumanno teorijas.Prietaisu galima nustatyti kietųjų kūnų paviršių vilgumą, paviršiaus laisvąją energiją, tarpfazinę energiją. Skirta matavimams skysčiais, turinčiais klampą iki 120 mPas. |
|
|
Kontaktinio vilgumo kampo matavimo prietaisas OCA 25
Aprašymas: Programine įranga valdomas prietaisas, skirtas miltelių ir pluoštų kontaktinio kampo, taip pat skysčių adsorbcijos ant vilgomų medžiagų paviršių matavimui pagal modifikuotą Washburno metodą; prizminių ir cilindrinių bandomųjų kūnų dinaminio kontakto kampo ir paviršiaus energijos matavimui.
|
|
|
Tarpfazinio šlyties įtempio IFSS matavimo sistema LEX820
Aprašymas:
Tarpfazinio šlyties įtempio (IFSS) matavimo sistema naudojama polimero mikrolašelių, suformuotų ir sukietintų ant pluošto, atplėšimo jėgai matuoti. Videokamera su šviesos šaltiniu leidžia vizualizuoti lašelį bandymo metu ir užfiksuoti atplėšimo procesą vaizdo įrašuose ir nuotraukose.
|
|
|
Analitinė platforma organinės sintezės proceso įvertinimui (Shimadzu LCMS-2050)
Aprašymas: Chromatografijos (HPLC) sistema su masių (MS) detektoriumi ir elementinė analizė |
|
|
LuQY Pro: absoliučios liuminescencijos kvantinio našumo matavimo sistema
Aprašymas: LuQY Pro – tai kompaktiška, lengvai naudojama ir neinvazinė sistema, skirta greitam ir patikimam elektroliuminescencijos (EL), fotoliuminescencijos kvantinio našumo(PLQY) bei numanomos atvirojo grandinės įtampos (iVOC / kvazi-fermi lygmenų skirtumo – QFLS) įvertinimui plonų sluoksnių absorberiuose, tokiuose kaip hibridiniai halidiniai perovskitai, sluoksnių struktūrose ar pilnuose fotovoltiniuose įrenginiuose, esant įvairioms darbo sąlygoms.
|
|
|
Inertinės atmosferos kameros su garinimo sistema
Aprašymas: Sluoksnių formavimui skirta įranga, integruota į inertinės atmosferos kamerą. |
|
|
Optinės emisijos spektrometras PerkinElmer Optima 8000 ICP-OES
Aprašymas: |
|
|
Adatinis paviršiaus profilometras - Bruker Dektak Pro
Aprašymas: |
|
|
Atmosferinio slėgio dujų masių spektrometras - Pfeiffer Vacuum OmniStar GSD 350 O1
Aprašymas: |
|
|
Dalelių dydžio ir Zeta potencialo analizatorius - Malvern Panalytical Zetasizer Ultra Red
Aprašymas: |
|
|
UV-Vis-NIR spektrofotometras su priedais - Jasco V-770
Aprašymas: |
|
|
Plonų dangų užnešimo sistema Lesker PVD 75
Aprašymas: |
|
|
Mikroskopas tamsaus lauko stebėjimui su priedais "NIKON Eclipse LV100D"
Aprašymas: |
|
|
Elipsometras L117 Nr.166-AK
Aprašymas: |
|
|
UV-Vis, NIR spektrometriniai matavimai
Aprašymas: |
|
|
Skaitmeninis oscilografas - Siglent SDS6104A
Aprašymas: |
|
|
Aukštos temperatūros elektrinė vamzdinė krosnis SNOL
Aprašymas: |
|
|
EBL: Elektroninės litografijos įrenginys - Raith e-Line Plus
Aprašymas: Raith e-Line Plus yra pažangi elektroninės litografijos sistema, skirta didelio tikslumo nanogamybai ir nanoraštų formavimui. Tai yra lankstus įrenginys, turintis aukštos raiškos elektronų pluošto koloną, galintis formuoti |
|
|
Termogravimetrinė analizė – PerkinElmer Pyris TGA 9
Aprašymas: |
|
|
Pjovimo įrenginys - Roland GS-24
Aprašymas: |
|
|
FTIR Imaging Microscopy – Bruker LUMOS II
Aprašymas: |
|