Mikroskopija ir paviršiaus analizė
Aprašymas:
Ši paslauga suteikia prieigą prie plataus spektro vaizdinimo įrangos, skirtos medžiagų struktūros ir paviršiaus tyrimams atlikti. Naudojant skenuojantį elektroninį mikroskopą (SEM) FEI Quanta 200 FEG, galima detaliai analizuoti mėginių morfologiją didelės skiriamosios gebos režimu. Paviršiaus topografijos ir šiurkštumo matavimams nanometriniu lygmeniu taikomi atominės jėgos mikroskopai (AFM), įskaitant JPK NanoWizard 3 bei NT-206 sistemas. Paslaugų spektrą papildo optinė mikroskopija, apimanti metalografinius tyrimus su Nikon Eclipse LV150N bei fluorescencinę analizę naudojant OPTIKA serijos įrenginius. Toks įrangos derinys užtikrina galimybę tirti tiek biologinius, tiek inžinerinius objektus įvairiais masteliais.

Raktažodžiai:
null

Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
EDS: Rentgeno spindulių energijos dispersijos spektrometras - Bruker Quantax
Optinis mikroskopas (analizatorius) - Nikon
Optinis ir fluorescencinis mikroskopai - OPTIKA B-600 MET ir OPTIKA B-353FL
AJM (AFM): Atominių jėgų mikroskopas - NT-206
Optinis mikroskopas - Nikon Eclipse LV150N
AJM (AFM): Skenuojančio zondo mikroskopas - JPK NanoWizard 3
SEM: Skenuojantis elektroninis mikroskopas - FEI Quanta 200 FEG
EBL: Elektroninės litografijos įrenginys - Raith e-Line Plus
Užklausos forma