Aprašymas:

Naudojamas vandenyje esančios bendrosios organinės anglies koncentracijai nustatyti. Reikalingas mėginio tūris 10mL, vienos analizės trukmė 10min.

Techninė specifikacija:

Shimadzu TOC-L bendrosios organinės anglies analizatorius

Taikymo sritys: Vandens tyrimai

Raktažodžiai: bendroji anglis, TOC

Aprašymas:

Daugiakanalė žemo dažnio ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Techninė specifikacija:

Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema "Dasel Sitau" (128/128) (dažnių juosta nuo 0.8 iki 16MHz, prie -3dB), su fazuotų gardelių rinkiniu (centriniai dažniai nuo 0.5MHz iki 10MHz, elementų skaičiai nuo 16 iki 128)

Taikymo sritys: Ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Raktažodžiai: ultragarsiniai matavimai, ultragarsiniai neardomieji bandymai, vaizdavimas

Aprašymas:

Precizinis 11 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Techninė specifikacija:

Precizinis 11 ašių skeneris "Tescan" (Dekarto ir Polinėje koordinačių sistemoje)

Taikymo sritys: Ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Raktažodžiai: ultragarsiniai matavimai, neardomieji bandymai, vaizdavimas

Aprašymas:

Precizinis 6 ašių skeneris skirtas naudoti ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Techninė specifikacija:

Precizinis 6 ašių skeneris "Tescan" (Dekarto ir Polinėje koordinačių sistemoje)

Taikymo sritys: Ultragarsiniams matavimams vandenyje tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Raktažodžiai: ultragarsiniai matavimai, neardomieji bandymai, vaizdavimas

Aprašymas:

Optinis stereo mikroskopas skirtas optiniams matavimams tiriant įvairių objektų pjūvius ir paviršių

Techninė specifikacija:

Stereo mikroskopas "Olympus" su skaitmenine kamera (didinimo diapazonas 7x-115x, max didinimas 230x)

Taikymo sritys: Optiniams tyrimams

Raktažodžiai: mikroskopas, didinimas

Aprašymas:

Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema skirta naudoti ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Techninė specifikacija:

Daugiakanalė ultragarsinių fazuotų gardelių sistema "Dynarray" 64/256 (dažnių juosta nuo 0.20 iki 25MHz, prie -6dB), su fazuotų gardelių rinkiniu (centriniai dažniai nuo 0.5MHz iki 10MHz, elementų skaičiai nuo 16 iki 128)

Taikymo sritys: Ultragarsiuose neardomuosiuose bandymuose bei matavimuose tiriant įvairių metalų ir jų lydinių, anglies bei stiklo pluoštu sutvirtintų kompozicinių medžiagų, metalo kompozitų, plastikų bei jų lydinių vidinę struktūrą, vidinių defektų paieškoje

Raktažodžiai: ultragarsiniai matavimai, ultragarsiniai neardomieji bandymai, vaizdavimas, fazuotos gardeles

Aprašymas: Demonstracinis fizikos kabinetas skirtas pademonstruoti fizikos dėsnių veikimą tam tikromis sąlygomis, geresniam fizikos dėsnių veikimo supratimui. Maketuose naudojami mechaninį judėjimą, šilumos kiekio kitimą, elektrinių ir magnetinių laukų kitimą, šviesos pluoštų kitimą, spindulių matavimą atliekantys įrenginiai. Naudojama kompiuterinė įranga, video kamera ir projektorius.

Techninė specifikacija: A. Mechanika: I. Slenkamasis judėjimas: 1. Kabantis švininis rutulys – inercija; 2. Bėgis su oro pagalve – judesio kiekio tvermė; 3. Raketa – judesio kiekio tvermė. II. Sukamasis judėjimas: 1. Vilkelis; 2. Giroskopai; 3. Besisukantys staliukai (Žukovskio kėdė). III. Svyravimai: 1. Matematinė svyruoklė; 2. Fizinė svyruoklė; 3. Autosvyravimai (laikrodžio svyruoklė); 4. Svyravimų sudėties demonstravimas su oscilografu ir kamertonais; 5. Spyruoklinės svyruoklės. 6. Dalelių judėjimo bangoje maketas su rutuliukais; 7. Macho bangų mašina; 8. Demonstracijos su bangų vonia; 9. Stovinčiosios bangos stygoje su elektromagnetiniu vibratoriumi. IV. Mechaninė energija: 1. Maksvelio svyruoklė. B. Termodinamika 1. Krizinė būsena (kaitinama eterio ampulė); 2. Skystojo azoto savybės. C. Skysčių mechanika 1. Bernulio lygties veikimo pasireiškimas krintančioje skysčio srovėje. D. Elektromagnetizmas I. Elektrostatika: 1. Kabančių įelektrintų kūnų sąveika; 2. Elektroforinė mašina, elektrostatinis malūnėlis; 3. Elektrostatinio lauko linijų sudarymas; 4. Muilo burbulų įkrovimas elektra; II. Elektrostatinis laukas medžiagose: 1. Kondensatoriaus krūvio kitimas keičiant medžiagą; 2. Vandens srovės iškraipymas prie įelektrinto kūno. III. Elektros srovė dujose: 1. Elektros išlydis praretintose dujose; 2. Plazmos rutulys, išlydis liuminescencinėse lempose; 3. Elektroforinė mašina, kibirkštinis išlydis. IV. Magnetinis laukas vakuume ir medžiagoje: 1. Magnetai, magnetų sąveika; 2. Pirolizinio grafito diamagnetizmas; 3. Srovės magnetinis laukas (tiesaus laido, solenoido, toroido); 4. Judančių elektronų sąveika su magnetiniu lauku (Lorenco jėga); 5. Srovės sąveika su magnetiniu lauku (Ampero jėga); 6. Feromagnetikų įmagnetėjimo histerezė; 7. Feromagnetizmo susilpnėjimo dėl aukštos temperatūros Kiuri taškas. V. Elektromagnetinė indukcija: 1. Faradėjaus bandymas; 2. „Kabantys“ žiedai; 3. Fuko srovės laidžioje svyruoklėje; 4. Lėtas magneto kritimas laidžiame vamzdyje; 5. Superlaidininko diamagnetizmas. 6. Kabantis gaublys su magnetu. VI. Elektromagnetinės bangos: 1. Elektromagnetinės bangos maketas; 2. Elektromagnetinių bangų sklidimo bandymai; 3. Virpamojo kontūro bandymai. E. Geometrinė ir banginė optika I. Geometrinė optika: 1. Šviesos lūžis ir atspindys; 2. Visiškas vidaus atspindys; 3. Šviesolaidžiai. II. Banginė optika: 1. Frenelio biprizmė; 2. Niutono žiedai; 3. Difrakcija už siūlo ir plyšyje; 4. Difrakcinė gardelė ( sudėtingi atvejai); 5. Hologramos III. Šviesos sąveika su medžiaga: 1. Baltos šviesos sklidimas per prizmę; 2. Poliarizatoriai; 3. Dvejopas šviesos lūžis Islandijos špato kristale; 4. Poliarizacijos plokštumos sukimas optiškai aktyviose medžiagose; 5. Deformuoto kūno dirbtinė anizotropija. 6, Skystų kristalų vaizduoklio šviesos poliarizacijos rodymas. F. Kvantinė optika: I. Šiluminio spinduliavimo dėsniai: 1. Šiluminio spinduliavimo spektro kitimas rodant per prizmę su diaprojektoriumi; 2. Šiluminio spinduliavimo matavimo rodymas su termoporų baterija; 3. Nuotolinis termometras. 4. Šviesos slėgis – šviesos malūnėlis. II. Išorinis fotoefektas: 1. Elektriškai įkrautos cinko plokštelės iškrovimas su kvarco lempa; 2. Fotoelektrinis elementas. G. Atomo fizikos pagrindai: I. Spinduliavimo spektrai: 1. Hg ir Na lempų spektrų rodymas; 2. Šviesos filtrai; 3. Rentgeno spindulių lempa. II. Lazeris: 1. Helio-neono lazerio sandara; 2. Įvairių spalvų puslaidininkiniai lazeriai. H. Kietojo kūno fizikos elementai: 1. Kristalinių gardelių maketai; 2. Puslaidininkinis fotorezistorius; 3. Saulės baterija; 4. Vandenilio kuro elementas. I. Atomo branduolio fizikos elementai: 1. Geigerio skaitiklis; 2. Geigerio skaitiklio signalai.

Taikymo sritys: Maketai naudojami modulių „Fizika 1“, „Fizika 2“, „Fizika 3“ ir kitų fizikinių modulių paskaitose.

Raktažodžiai: Fizikos demonstracija, fizikos bandymo maketas, fizikos demonstracinis maketas, fizikos bandymai.

Aprašymas:

Elektromagnetinio spinduliavimo ir atsparumo elektromagnetiniam spinduliavimui tyrimo sistema leidžia pamatuoti tiriamų objektų elektromagnetinį spinduliavimą ir jų atsparumą išoriniam elektromagnetiniam laukui.

GTEM celė yra puiki alternatyva beaidžiams kambariams, kuriuose galima atlikti EMC testus

Techninė specifikacija:

Darbinių matavimo dažnių diapazonas 0.15 MHz - 6 GHz

Sukuriamo elektromagnetinio lauko stipris 10V/m

Taikymo sritys: Gaminių, produktų, spausdintinių plokščių išspinduliuojamų trikdžių matavimas (radiated emissions) Gaminių, produktų, spausdintinių plokščių jautrumo išspinduliuojamiems trikdžiams matavimas (radiated immunity)

Raktažodžiai: EMC, electromagnetic, compatibility, GTEM, cell, Elektromagentinis spinduliavimas, elektromagnetinis laukas, trikdžiai, radiated, immunity, radiation, spinduliavimas, išspinduliuotų, RF, atsparumas, atsparumo, jautrumo, jautrumas

Aprašymas:

Dangos atsparumo nusitrynimui nustatymo prietaisas IG/10/MOD (f. GIULIANI), Nr. 14279

Techninė specifikacija:

Piršto masė 500 g, vežimėlio judėjimo dažnis 40 min-1.

Taikymo sritys: Dangos atsparumo nusitrynimui nustatymas pagal LST EN ISO 20344

Raktažodžiai: Dangos atsparumas nusitrynimui

Aprašymas:

3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras judesio (virpesių) 3D dedamųjų matavimui bei programinę įrangą rezultatų analizei ir vizualizavimui virpesių matavimo plokštumoje ir statmena kryptimi plokštumai matavimo galvutės (kompl. iš vnt. 3, 3D analizei, su integruotais skeneriais) ir šių galvučių tvirtinimo sistema; duomenų nuskaitymo, analizės ir vizualizavimo įranga

Techninė specifikacija:

Lazerio spindulio pozicionavimo tikslumas - didesnis nei 0,0002° ; mažesnis nei ±0,05 mm esant objektui nutolusiam 1 m atstumu; Vibracijų greičio matavimo intervalas ir matavimo diapazonai - intervalas nuo 0,001 iki 10 m/s su 13 diapazonų; Matavimo dažnių juosta - iki 25 MHz (V versija); Kanalų skaičius sensorių pajungimui - 8 kanalai (matavimo juostai iki 100 kHz), 1 kanalas (matavimo juostai iki 25 MHz); Signalo generatorių kanalų skaičius - 4 kanalai (iki 100 kHz), 1 kanalas ( iki 25 MHz); Matavimo galvutės su integruotais skeneriais - viena PSV-I-500 precizinė matavimo galvutė su HD video kamera, PSV-A-560 lazerio koherencijos optimizatoriumi ir PSV-G-500 įtaisu skenuojamo objekto matmenims ir formai nustatyti ir dvi PSV-I-520 precizinio matavimo galvutės su PSV-A-560 lazerio koherencijos optimizatoriumiais; Vibrometro lazerio tipas - HeNe, 2 saugumo klasė (matavimo galvučių išeinančio lazerio spindulio galia <1 mW); Matavimo galvučių spindulio darbinio atstumo intervalas - kiekvienos matavimo galvutės darbinio atstumo intervalas automatiškai reguliuojamas nuo 150 mm iki 5 m atstumu; Maksimalus skenuojamo spindulio atlenkimo kampas - 50° x ašimi ir 40° y ašimi; Skenuojamo atlenkiamo spindulio kampinė rezoliucija - geresnė nei 0,002°.

Taikymo sritys: Matuoti vibracijas 3D erdvėje bekontakčiu būdu (in-plane ir out-of-plane), nustatyti virpesių formas, rezonansinius dažnius, su programine įranga apdorojančia ir atvaizduojančia matavimo duomenis.

Raktažodžiai: '3D skenuojantis lazerinis doplerinis vibrometras', PSV-500-3D, '3D analizė', Polytec

Aprašymas:

Skaitmeninė apkrovos matavimo sistema Froewag su statine plokšte, skirta grunto sutankinimui nustatyti.

Techninė specifikacija:

100 kN max apkrova 300mm diametro gniuždymo štampas    

Taikymo sritys: Įrenginys skirtas grunto sutankinamumui nustatyti tiesiamo kelio atkarpoje ar formuojamoje aikštelėje.

Raktažodžiai: Bandymas štampu, Grunto sutankinamumas, kelio tyrimai

Aprašymas:

Dažnių diapazonas 9 kHz - 30 MHz

Maksimali srovė iki 16 A (pastovi)

Impedansas (50 μH + 5 Ω) || 50 Ω atitinka CISPR 16-1-2 Amd. 2:2006, EN 55016-1-2, VDE 0876 reikalavimus

Artificial hand (prietaiso laikymo ranose simuliavimas)

Techninė specifikacija:

Impedanso stabilizavimo filtras naudojamas atliekant kondukuotų (laidininkais sklindančių) elektromagnetinių triukšmų analizei, triukšmams į įtampos tinklą matuoti.

Taikymo sritys: EMC matavimai, prietaiso triukšmų į tinklą matavimai

Raktažodžiai: filtras, LISN, line, impedance, stabilisation, network, CISPR, EN, conducted, emmisions, V-network, ENV-216, ENV216, R&S, CISPR 16-1-2, kondukuotų, laidininkų, triukšmų, elektromagnetinis, suderinamumas, laidininkais sklindančių, artificial hand, triukšmų, triukšmai, į tinklą, tinklą, emisijos, spinduliavimas