Puslaidininkių paviršiaus savybių modifikavimas bei pasyvavimas cheminiais ir fiziniais metodais
Aprašymas:
Puslaidininkių paviršiaus savybės keičiamos naudojant cheminį skystos fazės tirpalų poveikį arba apšvitą žemos energijos jonais.

Raktažodžiai:
Puslaidininkių paviršiaus pasyvavimas

Mokslo kryptis:
Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Pikoampermetras/įtampos šaltinis
Dinaminio mikrokietumo matavimo sistema su pagrindu HM 2000S
Deimanto tipo anglies dangų auginimo jonpluoštės sintezės būdu sistema
FTIR: Furje transformacijos infraraudonosios srities spektrometras
Spektroskopinis elipsometras
Ramano sklaidos spektrometras Renishaw in Via Spectrometer su priedais
Šviesolaidinis spektrometras AvaSpec-2048
Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema
Užklausos forma