Ieškoti

Optoelektroniniai holografiniai metrologiniai tyrimai
Aprašymas:

Optoelektroninė holografinė metrologinė sistema PRISM

Raktažodžiai: f

Mokslo kryptis: Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Užklausos forma