PTVF

Paviršių šiurkštumo matavimas
Aprašymas:
Paviršių šiurkštumo matavimo paslauga skirta apdirbtų paviršių kokybės, technologinių procesų stabilumo ir atitikties norminiams reikalavimams vertinimui. Paviršiaus topografijos analizė leidžia objektyviai įvertinti mikrogeometrijos parametrus ir jų įtaką detalės funkcionalumui, sandarumui, trinties sąlygoms bei ilgaamžiškumui. Matavimai atliekami kontaktiniu profiliavimo metodu, naudojant profilometrą GARANT ST1, kuris leidžia tiksliai registruoti paviršiaus profilį ir apskaičiuoti tokius parametrus kaip Ra, Rz ar Rt. Tyrimai gali būti vykdomi laboratorijoje arba tiesiog darbo vietoje, priklausomai nuo objekto dydžio ir kliento poreikių. Galimos tyrimų kryptys apima paviršių šiurkštumo parametrų nustatymą, skirtingų apdirbimo technologijų palyginimą, procesų kokybės kontrolę bei paviršiaus būklės analizę prieš ir po apdirbimo ar eksploatacijos.

Raktažodžiai:
laboratoriniai tyrimai,struktūrinė analizė

Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Užklausos forma