Adatinis paviršiaus profilometras - Bruker Dektak Pro
Aprašymas:
Adatinis profilometras naudojamas didelio tikslumo paviršiaus metrologijai. Naudojantis adata profilometras mechaniškai nuskaito mėginio paviršių, kad išmatuotų paviršiaus topografiją ir kiekybiškai įvertintų tokias savybes kaip laiptelių aukštis, šiurkštumas ir plėvelės storis subnanometrų tikslumu. Atliekant daugelį lygiagrečių matavimų galima sudaryti dvimatį paviršiaus reljefo vaizdą.
Adatinis profilometras naudojamas didelio tikslumo paviršiaus metrologijai. Naudojantis adata profilometras mechaniškai nuskaito mėginio paviršių, kad išmatuotų paviršiaus topografiją ir kiekybiškai įvertintų tokias savybes kaip laiptelių aukštis, šiurkštumas ir plėvelės storis subnanometrų tikslumu. Atliekant daugelį lygiagrečių matavimų galima sudaryti dvimatį paviršiaus reljefo vaizdą.
Raktažodžiai:
null
Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Techninė specifikacija:
Adatos skersmuo: 12,5 µm;
Maksimalus bandinio dydis: aukštis – 50 mm, skersmuo – 200 mm
Maksimalus matuojamas aukštis: 1 mm;
Vienu matavimu brėžimo ilgis: 55 mm (200 mm sujungiant matavimus);
Skiriamoji aukščio matavimo geba: 0,1 nm;
Motorizuotas bandinio staliukas, maksimali eiga X ir Y ašimis: 150 mm, sukimas 360 °;
Adatos spaudimo į bandinį jėga: 1-15 mg.
Adatos skersmuo: 12,5 µm;
Maksimalus bandinio dydis: aukštis – 50 mm, skersmuo – 200 mm
Maksimalus matuojamas aukštis: 1 mm;
Vienu matavimu brėžimo ilgis: 55 mm (200 mm sujungiant matavimus);
Skiriamoji aukščio matavimo geba: 0,1 nm;
Motorizuotas bandinio staliukas, maksimali eiga X ir Y ašimis: 150 mm, sukimas 360 °;
Adatos spaudimo į bandinį jėga: 1-15 mg.
Trumpas paslaugos aprašymas:
Paviršiaus šiurkščio arba laiptelio aukščio vertinimas atliekant matavimą smailiu profilometro zondu, kuris yra braukiamas išilgai linijos paviršiumi.
Paviršiaus šiurkščio arba laiptelio aukščio vertinimas atliekant matavimą smailiu profilometro zondu, kuris yra braukiamas išilgai linijos paviršiumi.