Medžiagų analizė optinės spektroskopijos metodais
Aprašymas:
Ši paslauga apima kompleksinį medžiagų ir paviršių tyrimą naudojant neardančius optinius metodus. Laboratorijoje taikoma virpesinė spektroskopija: Ramano sklaidos (Renishaw inVia) ir Furje transformacijos infraraudonosios srities (FTIR, Bruker Vertex 70) metodikos, leidžiančios identifikuoti cheminius junginius, funkcinės grupes bei tirti molekulinę struktūrą. Plonųjų sluoksnių bei dangų analizei naudojama spektroskopinė (Semilab GES5-E) ir lazerinė (Gaertner L115) elipsometrija, įgalinanti nustatyti lūžio rodiklius bei sluoksnių storius nanometrų tikslumu. Spektrinė analizė ultravioletinėje, regimojoje ir artimojoje infraraudonojoje srityse atliekama naudojant šviesolaidinius spektrometrus. Paslauga taip pat apima saulės elementų charakterizavimą naudojant saulės spektro simuliatorių, skirtuminės sugerties matavimus bei paviršiaus blizgumo vertinimą pramoniniams taikymams.
Raktažodžiai:
null
Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Šviesolaidinis spektrometras su šviesos šaltiniu - Avantes AvaSpec-2048 ir AvaLight-DHc
Lazerinis elipsometras - Gaertner L115
FTIR: Furje transformacijos infraraudonosios srities spektrometras - Bruker Vertex 70
Ramano sklaidos spektrometras - Renishaw inVia
Saulės spektro simuliatorius
Šviesolaidinis spektrometras - Avantes AvaSpec-2048
Šviesolaidinis spektrometras - CMA 012
Blizgumo matuoklis - Elcometer 480
Spektroskopinis elipsometras - Semilab GES5-E
Spektroskopinis detektorius su monochromatoriumi - Andor Kymera 193i ir Newton EMCCD DU970P-BVF
Dalelių dydžio ir Zeta potencialo analizatorius - Malvern Panalytical Zetasizer Ultra Red
Optinis spektro analizatorius - Yokogawa AQ6373E-10-L1-F
UV-Vis-NIR spektrofotometras su priedais - Jasco V-770
Superkontinuumo lazeris su valdomu filtrų rinkiniu - NKT Photonics SuperK EVO HP EU-4 ir SuperK VARIA
Universali optinės spektroskopijos ir lazerinio mikroapdirbimo sistema