Struktūros ir cheminės sudėties analizė Rentgeno spinduliuotės metodais
Aprašymas:
Ši paslauga apima išsamią medžiagų analizę taikant rentgeno spinduliuotės metodus, skirtus tiek tūrinei struktūrai, tiek paviršiaus savybėms tirti. Naudojant „Bruker D8 DISCOVER“ difraktometrą, atliekamas kristalografinės struktūros nustatymas, fazių identifikavimas bei plonų sluoksnių analizė. Paviršiaus cheminei sudėčiai tirti taikomos rentgeno fotoelektronų spektroskopijos (XPS) sistemos „ThermoFisher ESCALAB 250Xi“ ir „KRATOS XSAM800“. Šie instrumentai leidžia tiksliai nustatyti elementinę sudėtį ir cheminius ryšius kelių nanometrų gylyje, o Ože (Auger) spektroskopija suteikia papildomų duomenų apie lokalius paviršiaus ypatumus. Papildomai „Bruker Quantax“ energijos dispersijos spektrometras (EDS) suteikia galimybę atlikti greitą elementinę analizę ir pasiskirstymo kartografavimą mikronų lygmeniu. Metodų derinys užtikrina visapusišką medžiagos charakterizavimą.
Ši paslauga apima išsamią medžiagų analizę taikant rentgeno spinduliuotės metodus, skirtus tiek tūrinei struktūrai, tiek paviršiaus savybėms tirti. Naudojant „Bruker D8 DISCOVER“ difraktometrą, atliekamas kristalografinės struktūros nustatymas, fazių identifikavimas bei plonų sluoksnių analizė. Paviršiaus cheminei sudėčiai tirti taikomos rentgeno fotoelektronų spektroskopijos (XPS) sistemos „ThermoFisher ESCALAB 250Xi“ ir „KRATOS XSAM800“. Šie instrumentai leidžia tiksliai nustatyti elementinę sudėtį ir cheminius ryšius kelių nanometrų gylyje, o Ože (Auger) spektroskopija suteikia papildomų duomenų apie lokalius paviršiaus ypatumus. Papildomai „Bruker Quantax“ energijos dispersijos spektrometras (EDS) suteikia galimybę atlikti greitą elementinę analizę ir pasiskirstymo kartografavimą mikronų lygmeniu. Metodų derinys užtikrina visapusišką medžiagos charakterizavimą.
Raktažodžiai:
null
Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
EDS: Rentgeno spindulių energijos dispersijos spektrometras - Bruker Quantax
XPS: Rentgeno fotoelektronų ir Ože elektronų spektroskopijos sistema - KRATOS XSAM800
XPS: Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema - ThermoFisher ESCALAB 250Xi
XRD: Automatinis rentgeno spindulių difraktometras - Bruker D8 DISCOVER