MMI
Ieškoti

Sudėties nustatymas energijos dispersijos spektrometru
Aprašymas: Skenuojančiame elektronų mikroskope yra įmontuotas naujos kartos Bruker imonės rentgeno spindulių energijos dispersijos spektrometras XFlash 4030, kuris leidžia atlikti ir cheminės mikro analizės tyrimus. Spektrometras leidžia kiekybiškai ir kokybiškai įvertinti bandinio sudėtį, detektuojant cheminius elementus nuo Boro 5 iki Americio 95 pasirinktame taške (1 um3 tūryje). Analizę galima atlikti pasirinktame bandinio plote, išilgai linijos ar taške. Taip pat galima sudaryti cheminių elementų pasiskirstymo žemėlapį. Modernus 30 cm2 ploto Peltje elementais šaldomas rentgeno spindulių silicio slinkties spektrometro detektorius užtikrina 133 eV (ties Mn Ka linija) energijos skiriamąją gebą, esant dideliam rentgeno fotonų detektavimo greičiui (100.000 impulsų per sekundę). Rentgeno spindulių energijos dispersijos spektrometrija yra labai galingas medžiagų sudėties nustatymo įrankis, nereikalaujantis specialaus bandinio paruošimo. Analizei pakanka mažų matmenų tiriamojo bandinio. Priklausomai nuo cheminio elemento galima detektuoti koncentracijas iki 0.1%.

Raktažodžiai: cheminė sudėtis

Mokslo kryptis: Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Įranga jau užrezervuota
Nuo Iki
Įranga nerezervuota
Užklausos forma