Paviršiaus tyrimas taikant: Rentgeno fotoelektronų spektroskopiją (XPS); jonų sklaidos spektroskopiją (ISS); atspindėtų elektronų prarastos energijos spektroskopiją (REELS); UV spindulių fotoelektronų spektroskopiją (UPS)
Aprašymas:
Paviršiaus tyrimas, taikant rentgeno fotoelektronų spektroskopiją (XPS), jonų sklaidos spektroskopiją (ISS), atspindėtų elektronų prarastos energijos spektroskopiją (REELS) bei UV fotoelektronų spindulių spektroskopiją (UPS), atliekamas su universalia rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema.
Paviršiaus tyrimas, taikant rentgeno fotoelektronų spektroskopiją (XPS), jonų sklaidos spektroskopiją (ISS), atspindėtų elektronų prarastos energijos spektroskopiją (REELS) bei UV fotoelektronų spindulių spektroskopiją (UPS), atliekamas su universalia rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema.
Raktažodžiai:
Rentgeno fotoelektronų spektroskopija, jonų sklaidos spektroskopija,atspindėtų elektronų prarastos energijos spektroskopija, UV spindulių fotoelektronų spektroskopija
Mokslo kryptis:
Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema