MMI
Ieškoti

Puslaidininkių paviršiaus savybių modifikavimas bei pasyvavimas cheminiais ir fiziniais metodais
Aprašymas: Puslaidininkių paviršiaus savybės keičiamos naudojant cheminį skystos fazės tirpalų poveikį arba apšvitą žemos energijos jonais.

Raktažodžiai: Puslaidininkių paviršiaus pasyvavimas

Mokslo kryptis: Diagnostinės ir matavimo technologijos, Naujos medžiagos aukštosioms technologijoms, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Šviesolaidinis spektrometras AvaSpec-2048
Pikoampermetras/įtampos šaltinis
Universali rentgeno fotoelektronų ir jonų sklaidos spektroskopijos paviršių analizės sistema
Deimanto tipo anglies dangų auginimo jonpluoštės sintezės būdu sistema
Dinaminio mikrokietumo matavimo sistema su pagrindu HM 2000S
FTIR: Furje transformacijos infraraudonosios srities spektrometras
Ramano sklaidos spektrometras Renishaw in Via Spectrometer su priedais
Spektroskopinis elipsometras
Įranga jau užrezervuota
Nuo Iki
Įranga nerezervuota
Užklausos forma