MMI

Lazerinis elipsometras - Gaertner L115
Aprašymas:

Lazerinis elipsometras yra tikslus optinis prietaisas, naudojamas plonų plėvelių storiui ir optinėms savybėms matuoti. Jame naudojama poliarizuota lazerio šviesa, kuriai atsispindėjus nuo bandinio analizuojami poliarizacijos būsenos pokyčiai. Taip nustatomas lūžio rodiklio ir plėvelės storis. Šis neardantis metodas plačiai naudojamas medžiagų moksle, puslaidininkių gamyboje.

Raktažodžiai:
lazerinis elipsometras, ploni sluoksniai, lūžio rodiklis, optinės savybės

Mokslo kryptis:
Sveikatos technologijos ir biotechnologijos, Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Techninė specifikacija:
  • Lazerio spindulio bangos ilgis - 632.8 nm
  • Plėvelių storis 0.001 - 1 µm
  • Storio matavimų neapibrėžtis - ±(0.5 - 1) nm
  • Lūžio rodiklio matavimo neapibrėžtis ±0.01
Trumpas paslaugos aprašymas:
medžiagų apibūdinimas ir analizė
Užklausos forma