Medžiagų sudėties, struktūros, paviršiaus ir optinių savybių tyrimai bei spektroskopija
Aprašymas:
Teikiame kompleksines medžiagų charakterizavimo ir spektroskopijos paslaugas moksliniams tyrimams, technologijų kūrimui ir pramoniniams taikymams. Atliekame cheminės sudėties analizę taikant EDS ir XPS metodus, kristalinės struktūros tyrimus naudojant XRD, paviršiaus morfologijos ir topografijos vaizdinimą SEM, AFM ir optine mikroskopija. Optinės savybės tiriamos spektroskopine elipsometrija, o medžiagų sąveika su spinduliuote analizuojama naudojant UV–Vis–NIR, FTIR, Raman ir trumpalaikės sugerties (TAS) spektroskopiją. Tyrimai leidžia įvertinti medžiagų savybes, defektus ir tinkamumą konkretiems taikymams.
Teikiame kompleksines medžiagų charakterizavimo ir spektroskopijos paslaugas moksliniams tyrimams, technologijų kūrimui ir pramoniniams taikymams. Atliekame cheminės sudėties analizę taikant EDS ir XPS metodus, kristalinės struktūros tyrimus naudojant XRD, paviršiaus morfologijos ir topografijos vaizdinimą SEM, AFM ir optine mikroskopija. Optinės savybės tiriamos spektroskopine elipsometrija, o medžiagų sąveika su spinduliuote analizuojama naudojant UV–Vis–NIR, FTIR, Raman ir trumpalaikės sugerties (TAS) spektroskopiją. Tyrimai leidžia įvertinti medžiagų savybes, defektus ir tinkamumą konkretiems taikymams.
Raktažodžiai:
null
Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos