Plonų dangų ir (nano, mikro) struktūrų tyrimai
Aprašymas:
Teikiamos plonų dangų, medžiagų, jų darinių ir inžinerinių komponentų paviršiaus bei struktūrinių savybių analizės paslaugos. Paviršiaus vaizdinimas atliekamas naudojant atominių jėgų mikroskopiją (AFM) ir optinę mikroskopiją, leidžiančias detaliai įvertinti topografiją, šiurkštumą ir struktūrų geometriją. Optinės savybės nustatomos lazerinės elipsometrijos metodu, suteikiančiu tikslią informaciją apie sluoksnių storį, lūžio rodiklius ir homogeniškumą. Spektroskopiniai tyrimai atliekami UV–Vis–NIR ir Raman metodais, leidžiančiais identifikuoti medžiagų sudėtį, fazinę būseną, defektus bei funkcinius ryšius. Paslaugos tinkamos kokybės kontrolei, prototipų kūrimui, medžiagų charakterizavimui ir tyrimams, kuriems reikalinga detalus paviršiaus ir sluoksnių parametrų įvertinimas.
Teikiamos plonų dangų, medžiagų, jų darinių ir inžinerinių komponentų paviršiaus bei struktūrinių savybių analizės paslaugos. Paviršiaus vaizdinimas atliekamas naudojant atominių jėgų mikroskopiją (AFM) ir optinę mikroskopiją, leidžiančias detaliai įvertinti topografiją, šiurkštumą ir struktūrų geometriją. Optinės savybės nustatomos lazerinės elipsometrijos metodu, suteikiančiu tikslią informaciją apie sluoksnių storį, lūžio rodiklius ir homogeniškumą. Spektroskopiniai tyrimai atliekami UV–Vis–NIR ir Raman metodais, leidžiančiais identifikuoti medžiagų sudėtį, fazinę būseną, defektus bei funkcinius ryšius. Paslaugos tinkamos kokybės kontrolei, prototipų kūrimui, medžiagų charakterizavimui ir tyrimams, kuriems reikalinga detalus paviršiaus ir sluoksnių parametrų įvertinimas.
Raktažodžiai:
null
Mokslo kryptis:
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos
Nauji gamybos procesai, medžiagos ir technologijos