EEF
Ieškoti

Radiometras/fotometras (sistema) IL 1700 Nr.4086
Aprašymas:

Skirtas optinės spinduliuotės charakteristikoms matuoti. Kartu su matavimo jutiklių komplektu galima matuoti: apšvietą (CIE fotopinę 400–700 nm) – nuo 5x10-4 iki 1x106 lx; skaistį (šviesinį, matavimo kampas 1,5) – nuo 1x10-2 iki 1,4x107 cd/m2; energinę apšvietą UVA (315 – 390 nm) – nuo 1,25x10-10 iki 0,25 W/cm2. (Vieta: Studentų g. 48-242)

Raktažodžiai: Fotometras

Mokslo kryptis: Diagnostinės ir matavimo technologijos, Išmanios aplinkos ir informacinės technologijos, Technologijos darniam vystymuisi ir energetika
Techninė specifikacija:

W/cm2, lix,cd/m2

Taikymo sritys: Apšvietos matavimas
Užklausos forma