Bet kokiam specifiniam matavimui technologiniame procese ar laboratorijoje, matavimo priemonėms ir matavimo technologiniams įrenginiams prižiūrėti, reikalinga matavimo arba etaloninė įranga, nauji matavimo metodai. Ši įranga kuriama atsižvelgiant į technologinio proceso techninius parametrus, eksploatuojamų matavimo priemonių metrologinius parametrus, jų eksploatavimo sąlygas. Atlikus paklaidų santykio skaičiavimus bei įvertinus turimų įmonės etalonų bei pagalbinių priemonių įrangos galimybes bei jų metrologines charakteristikas, nustatomos optimalios etaloninių priemonių kalibravimo charakteristikos, parenkamas kompleksinis kalibravimo būdas matavimo priemonės arba sistemos siečiai užtikrinti, pateikiamos rekomendacijos kalibravimui.